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            惠州市華高儀器設備有限公司
            聯系人:范志華
            電話/傳真:0752-7168848
            地址:惠州市江北文昌一路11號華貿大廈T3寫字樓1707-1708
            郵編:516003
            郵箱:1932151337@qq.com
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            UX-700 X射線熒光鍍層測厚儀|華高

            X射線熒光鍍層測厚儀|華高

            • 更新日期:2025-05-28
            • 訪問次數:2961?

            X射線熒光鍍層測厚儀UX-700:本著對插接件等細小結構件的單鍍層和多鍍層厚度的測量,Ux-700更專業(yè)小樣品測試腔的設計,帶有聚焦光點的準直器,高分辨率的探測系統(tǒng),眾多Z佳條件的選擇,保證測試結果的準確性。X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用,提高了大批量生產電鍍產品的檢驗條件,無損、快速和更準確的特點,對在電子和半導體工業(yè)中品質的提升有了檢驗的保障。

              X射線熒光鍍層測厚儀UX-700華唯
             

               配置型號

            探測器

            X光管

            高壓電源

            Ux-700 M

            AMPTEK Si-PIN X-123(進口)

            上??祁U維(國產)

            咸陽威思曼(國產)

            Ux-700 H

            AMPTEK Si-PIN X-123(進口)

            上??祁U維(國產)

            spellman(進口)

            Ux-700 S

            AMPTEK SDD X-123(進口)

            上海科頤維(國產)

            spellman(進口


              
            X射線熒光鍍層測厚儀UX-700產品指標:
             
              測厚技術:X射線熒光測厚技術
             
              測試樣品種類:金屬鍍層,合金鍍層
             
              測量下限:0.003um
             
              測量上限:30-50um(以材料元素判定)
             
              測量層數:10層
             
              測量用時:30-120秒
             
              探測器類型:Si-PIN電制冷
             
              探測器分辨率:149eV
             
              高壓范圍:5-50Kv,50W
             
              X光管參數:5-50Kv,50W,側窗類;
             
              光管靶材:Mo靶;
             
              濾光片:鍍層濾光片
             
              CCD觀察:260萬像素
             
              微移動范圍:XY15mm
             
              輸入電壓:AC220V,50/60Hz
             
              測試環(huán)境:非真空條件
             
              數據通訊:USB2.0模式
             
              準直器:Ø0.5mm
             
              軟件方法:FlexFP-Mult
             
              工作區(qū):開放工作區(qū) 自定義
             
              樣品腔:70*20mm
             
              整機重量:38kg
             
               UX-700產品介紹:
             
              本著對插接件等細小結構件的單鍍層和多鍍層厚度的測量,Ux-700更專業(yè)小樣品測試腔的設計,帶有聚焦光點的準直器,高分辨率的探測系統(tǒng),眾多*條件的選擇,保證測試結果的準確性。
             
              X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用,提高了大批量生產電鍍產品的檢驗條件,無損、快速和更準確的特點,對在電子和半導體工業(yè)中品質的提升有了檢驗的保障。
             
              Ux-700鍍層測厚儀配備了XY軸微移動平臺,可以通過鼠標的點擊操作,選擇樣品的多點測試,特別適應于細小結構多種不同鍍層材料的測試。
             
              Ux-700鍍層測厚儀具有高清晰、高放大倍數的攝像設備,測試樣品的部位清楚明了,同時攝像設備拍抓測試部位的圖片,和測試數據結果一同出現在測試報告中。
             
              Ux-700鍍層測厚儀采用了華唯技術FlexFp -Multi,不在受標準樣品的限制,在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度。
              X射線熒光鍍層測厚儀
               UX-700 鍍層測厚方法:
             
              1.磁性涂層測厚法
             
              使用磁性測厚法可測鐵、鋼導磁金屬上面的所有非導磁金屬和所有非導電層的厚度,如鐵上鍍銅、鋅、鉻、金、銀等,涂的油漆、塑料、橡膠、磷化膜、玻璃鋼等。
             
              2.渦流層層測厚法
             
              可以測量非導磁導電金屬上面非導電涂層的厚度,如不銹鋼、銅、鋁金屬上的油漆層、氧化膜、磷化膜、玻璃鋼、橡膠等圖層的厚度
             
              3.X射線熒光法
             
              所有金屬材料/非金屬材料上單金屬成分、2元或多元合金材料的單層和多層厚度的測試,同時可以測試鍍層材料的合金成分含量比例。
             
              常用單位:
             
              微米(um),微英寸(u‘’)俗語“邁”,密耳(mil)
             
              1um=39.4邁, 1um=0.04mil
             
             

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